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3511-50LCR电桥测试仪
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日本日置HIOKI3535LCR测试仪120MHz
HIOKI(日置)3535LCR测试仪120MHz
产地: 日本 厂商: 日本日置 HIOKILCR测试仪 高速LCR仪,采样率可高至120MHz 100kHz~120MHz的宽频带 高速LCR测试(6ms/采样) 拆卸式前置放大器可选择 为比较标准元件提供补偿的“负载补偿功能
3511-50LCR测试仪
3511-50LCR测试仪
产地: 日本 厂商: 日本日置 HIOKI LCR测试仪 精巧,非常专业,5ms快速测量LCR · 高速测量:5ms(1kHz)或13ms(120Hz) · 高精度: ±0.08% · 内置比较器
日本日置HIOKI3522-50LCR测试仪
3522-50
HIOKI3522-50LCR测试仪,日本日置HIOKI品牌电桥测试仪。提供HIOKI3522-50现货。
日本日置HIOKI3532-50 LCR测试仪
3532-50
3532-50 LCR测试仪,厂商:日本日置 HIOKI,搭配宽幅测试频率的阻抗测试仪,测试频率可在42Hz~5MHz宽广频率量程内以4位精确度自由调整。可很容易地测试被测物在高频量程内的特性。操作非常简便,改变设置时通过触模屏幕,所需的设定选项会顺序排列显示出来.
日本日置HIOKI3501电容值测试仪
3501电容值测试仪
产地: 日本 厂商: 日本日置 HIOKI 电容值测试仪 16当量程涵盖了从300 pF到10,000 μF的范围 · 单按键操作 · 与一般测量功能不同,它还能用DC测量电容—无偏差测量极性电容 · 两种类型连接治具可以处理所有尺寸的电容 基本参数 测量参数 满量程 测量量程 300 pF ~ 10,000 μF 测量方式 DC充电,最大应用电压4V DC 精度 ±2 % f.s. ±5 pF (300 pF, 1000 pF 量程)±3 % f.s. (0.003 μF ~ 10,000 μF量程) 电源供应 6F22(006P), 2节, 或 AC 转换器(12
日本日置HIOKI3503电容测试仪
3503电容测试仪
产地: 日本 厂商: 日本日置 HIOKI C测试仪 MLCC叠片陶瓷电容的高速测量,低价、高效 · 定电压测量:1V(~17μF)、15mV(~170μF)、1kHz时 · 4ms(代表值)的高速测量 · 内置比较器 · 数台同时使用时,相位同步可能 · 附带同时触发输出功能 基本参数 测量参数 Cs,Cp,D(tanδ) 测量量程 C:0.940pF~14.500mF(5位数显示) D:0.0001~1.9900 基本精度 C: ±0.1%,D: ±0.0016 测量频率 120Hz或1kHz 测量信号电平 500mV,1Vrms 输出阻抗 0.1Ω
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